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机译:$ {rm TaO} _ {rm x} $双极ReRAM的导电丝定标,可改善低工作电流下的数据保留
Device System Development Office, Device Solutions Center, Panasonic Corporation, Kyoto, Japan;
Arrays; Conductivity; Degradation; Hafnium compounds; Resistance; Semiconductor device modeling; Switches; Conductive filament; hopping-percolation model; resistive switching RAM; retention;
机译:通过抑制$ {rm TaO} _ {x} $ Bipolar-ReRAM中的导电丝膨胀来改善长期使用期间的数据保留
机译:通过插入$ {rm AlO} _ {delta} $势垒,提高$ {rm Ta} _ {2} {rm O} _ {5-x} / {rm TaO} _ {y} $双层ReRAM器件的电阻切换性能层
机译:具有$ {rm TaO} _ {x} / {rm HfO} _ {y} $$的新型RRAM堆栈双交换层配置通过背对背连接的子电池的互补切换显示出低工作电流
机译:TaOx双极ReRAM的导电细丝定标可在低电流操作下长期保持
机译:设计并行数据流体系结构以在异构平台上流式传输大规模可视化。
机译:低出生体重猪在北爱尔兰商业农场的目前在增长和死亡率受损的情况下是什么?
机译:通过脉冲序列操作对HfO2 ReRam中导电纳米丝演变的多级控制