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机译:存在大量移动载波扩散时,基于二维载波轮廓的设备性能精确预测
, imec, Leuven, Belgium;
Junctions; Logic gates; Mobile communication; Performance evaluation; Random access memory; Resistance; Semiconductor process modeling; 2-D carriers; MOSFETs; modeling; process/device simulation; scanning spreading resistance microscopy (SSRM); technology computer-aided design (TCAD); technology computer-aided design (TCAD).;
机译:通过将高分辨率扫描扩展电阻显微镜中的2D载流子轮廓纳入设备仿真来了解设备性能
机译:运营商表示,运营商IQ可帮助T-Mobile诊断设备和网络问题
机译:存在载波相位抖动时单载波和多载波QAM系统性能的比较
机译:在基于InP的设备上使用SSRM进行可靠的二维载波分析
机译:光电器件的电荷载流子传输和性能中的光学轮廓和纳米结构效应。
机译:从欧姆接触纳米线器件中的扫描光电流曲线中提取少数载流子衰变长度的新解析公式。
机译:具有均匀圆形阵列的基于OFDM的移动中继站的载波频率偏移和2-D AOA估计方法
机译:现实单载波和多载波移动无线信道远程信道预测辅助自适应传输性能分析