机译:具有有源淬火和外部复位功能的CMOS单光子雪崩二极管的死区时间补偿
Rutherford Appleton Laboratory, Science and Technology Facilities Council, Didcot, U.K.;
CMOS integrated circuits; Data models; Frequency control; Oscilloscopes; Photonics; Semiconductor device modeling; Timing; Dead time; fluorescence lifetime imaging (FLIM); positron emission tomography; single photon avalanche diode (SPAD); single photon avalanche diode (SPAD).;
机译:暗计数率的温度依赖性和在0.35μmCMOS中的集成有源淬火电路脉冲单光子雪崩二极管之后
机译:暗计数率的温度依赖性以及在0.35μmCMOS中具有集成有源淬火电路的单光子雪崩二极管脉动后的温度依赖性
机译:具有有源复位电路的栅被动钝化的基于InGaAs / InP的单光子雪崩二极管的特性
机译:具有可编程保持时间的猝灭和复位电路,用于0.18μmCMOS中的单光子雪崩二极管
机译:用于荧光寿命成像和微阵列应用的CMOS单光子雪崩二极管阵列
机译:应用于CMOS图像传感器的单光子雪崩二极管(SPAD)中的电容弛豫猝灭建模与分析
机译:单光子雪崩探测器的单片有源淬火和有源复位电路