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【24h】

Fpga-based Pxi Modules Improve Test-system-i/o Performance

机译:基于Fpga的Pxi模块可提高测试系统的I / O性能

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摘要

NI (National Instruments) has introduced a new generation of open, FPGA (field-program-mable-gate-array)-based PXI (peripheral-component-inter-connect-extensions-for-instrumentation) modules. The company calls the FlexRIO (real-time-input/output) family the industry's first commercial, off-the-shelf product line to combine high-speed, instrument-class I/O with flexible LabView FPGA technology. The new products enable engineers to add custom signal-processing algorithms to PXI-based FPGA hardware. Interchangeable adapter modules directly interface FPGAs to instrument-class I/O or allow the creation of custom front-end hardware to meet application requirements. With these capabilities, you can use techniques such as inline processing, hardware-in-the-loop simulation, and protocol-aware test as you design and test complex electronic devices.
机译:NI(National Instruments)推出了基于开放FPGA的新一代基于PXI(用于仪器的外围组件互连连接扩展)模块。该公司称FlexRIO(实时输入/输出)系列为业界第一条现成的商用产品线,它将高速,仪器级I / O与灵活的LabView FPGA技术结合在一起。新产品使工程师能够向基于PXI的FPGA硬件中添加自定义信号处理算法。可互换的适配器模块将FPGA直接连接到仪器类I / O,或者允许创建自定义的前端硬件以满足应用需求。借助这些功能,在设计和测试复杂的电子设备时,可以使用诸如内联处理,硬件在环仿真和协议感知测试之类的技术。

著录项

  • 来源
    《Electrical Design News》 |2009年第1期|16|共1页
  • 作者

    Dan Strassberg;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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