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CSP Sockets Enable Testing of Any Area-array Device to 200℃

机译:CSP插座可在200℃的温度下测试任何面阵设备

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摘要

Aries Electronics offers CSP sockets that accept any area-array device for high-temperature testing up to +200℃. The new AR4HT Series sockets incorporate a low-profile 0.45-mm contact structure (compressed) that is shorter than other low-profile contacts and provides desirable compliance for reliable ATE testing and burn-in.
机译:Aries Electronics提供的CSP插座可以接受任何区域阵列设备,以进行+ 200℃的高温测试。新的AR4HT系列插座采用扁平的0.45毫米触点结构(压缩),该结构比其他扁平触点短,并为可靠的ATE测试和老化提供了理想的合规性。

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  • 来源
    《ECN》 |2012年第1期|p.28|共1页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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  • 入库时间 2022-08-18 00:49:46

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