PREPARA??O DE AMOSTRAS PARA ANáLISE EM MICROSCOPIA ELETR?NICA DE VARREDURA EM INTERFACES DE REVESTIMENTOS CER?MICOS

摘要

A durabilidade e viabilidade do revestimento ceramico na constru??o civil dependem basicamente da fixa??o das pe?as ceramicas ao substrato. Sendo a aderência de sistemas de revestimentos de piso sobre piso resultados do contato da argamassa colante com a superfície sobre a qual ela será assentada, imagens em microscopia eletr?nica de varredura (MEV) podem ser uma ferramenta interessante para analisar a liga??o entre a argamassa colante e as placas ceramicas. Motivado pela pequena quantidade de material instrutivo quanto a prepara??o de amostras para análise em MEV este artigo apresenta uma metodologia para prepara??o de amostras. Esta abordagem consiste desde a retirada da amostra em campo, embutimento, polimento, metaliza??o até a aquisi??o de imagens no equipamento. Apresenta-se ainda correla??es de imagens obtidas com amostras preparadas seguindo a metodologia e ensaios de resistência de aderência de revestimentos assentados em um campo de testes, obtendo-se correla??es satisfatórias entre estes, demonstrando-se assim a eficiência dos procedimentos sugeridos.