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机译:纳米厚膜和2D膜无损可逆电接触的简单探针的开发
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机译:偏置AFM探针在电介质膜上的跳入式接触效应及其在量化薄层介电常数方面的应用
机译:用开尔文探针显微镜测量热电薄膜的电接触电阻
机译:铁电体,有机分子膜和近场光学纳米器件中的纳米级无损电场探测
机译:铁电薄膜和二维范德华材料的扫描探针显微镜和电传输研究
机译:4–6 nm厚的玻璃碳薄膜的弹性特性
机译:用开尔文探针显微镜测量热电薄膜的电接触电阻
机译:铝触点溅射Gaas薄膜的贯通薄膜电学特性。