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Angle-resolved evanescent-wave cavity ring-down spectroscopy for thin film-solid interface characterization

机译：角分辨e逝波腔衰荡光谱用于薄膜-固体界面表征

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《Optoelectronics and Advanced Materials-Rapid Communications》 |2011年第2011期|共页
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中图分类电工技术;
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入库时间 2022-08-18 13:56:28

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