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光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置

摘要

本发明涉及一种光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置。现有技术结构复杂,对光学元件精度要求高,并且不能对薄膜、界面、纳米物质等进行测试。本发明的探测部件采用对称结构的柱体或半球体,内部形成光反射腔,外表面镀有高反射膜。探测部件光纤耦合准直器与探测部件位置配合。激光光源和分光镜光纤耦合准直器分别设置在分光镜的两侧。光电探测器与分光镜光纤耦合准直器设置在分光镜的工作面的同一侧面,并且设置在分光镜的反射光方向上。探测部件光纤耦合准直器与分光镜光纤耦合准直器通过光纤连接。本发明精细腔构成简单,只有一个光学元件,结构简单稳定,对机械定位要求低,并且光谱分析测量对象能够拓展到薄膜、界面、纳米物质、流体。

著录项

  • 公开/公告号CN101281126B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN200810060206.8

  • 发明设计人 高秀敏;王健;

    申请日2008-03-31

  • 分类号

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人张法高

  • 地址 310018 浙江省杭州市江干区下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-18

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/39 授权公告日:20100811 终止日期:20150331 申请日:20080331

    专利权的终止

  • 2010-08-11

    授权

    授权

  • 2008-12-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-10-08

    公开

    公开

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