首页> 外文期刊>Revista Ion >An??lisis de falla en la chapa de acero al silicio en transformadores de distribuci?3n. Efecto de la zona de precedencia de los transformadores
【24h】

An??lisis de falla en la chapa de acero al silicio en transformadores de distribuci?3n. Efecto de la zona de precedencia de los transformadores

机译:3n配电变压器中硅钢板的故障分析。变压器优先区的影响

获取原文
       

摘要

An??lise de falha na chapa de a?§o sil?-cio em transformadores de distribui?§?£o apresenta um modelo baseado na microestrutura e propriedades magn??ticas deste material de diagn?3stico, com a qual o n?ocleo do monof??sico p?3lo transformadores de distribui?§?£o ?? fabricado. Tais diagn?3sticos, estudos complementares para avaliar a vida destas equipas, comparando a qualidade dos materiais que s?£o fabricados utilizando a??m??todos n?£o convencionaisa?? quando presentes condi?§?μes de falha, aumentando a experi?ancia em sistemas de distribui?§?£o de energia el??trica. O trabalho foi realizado utilizando t??cnicas de caracteriza?§?£o para a chapa de a?§o usando (difra?§?£o de raios-X) ou DRX e MEV no ambiente (microscopia eletr?′nica de varredura) ou E-SEM permitindo uma vis?£o mais clara dos fen?′menos envolvidos o comportamento da chapa de a?§o sil?-cio. Embora realizado anteriormente amostras metalogr??ficas de falha para verificar o tamanho do gr?£o impurezas ou inclus?μes que pode ter afectado a qualidade do material durante a opera?§?£o de equipamento de an??lise, de XRD ?? aplicada e a equa?§?£o de Scherrer ?? usado, verificando o tamanho dos cristais (gr?£os) em escala nano, e, em seguida, com a f?3rmula perdas Steinmetz s?£o avaliados devido ?? histerese magn??tica tamb??m afecta significativamente a opera?§?£o. Total do n?ocleo s?£o as perdas devido ?? presen?§a de ?3xidos de Tipo D e altera?§?μes no tamanho do cristal (gr?£o).
机译:配电变压器中硅钢板的故障分析提供了一个基于该诊断材料的微观结构和磁性能的模型,其中n≤n。配电变压器单相油制造的。这些诊断是补充研究,以评估这些团队的生命,比较使用非常规方法制造的材料的质量。当出现故障条件时,可增加电能分配系统的经验。这项工作是使用表征技术对钢板进行的(X射线衍射)或XRD和SEM在环境中进行的(电子显微镜检查扫描)或E-SEM可以更清晰地观察硅钢板行为的较少涉及的现象。尽管以前执行过金相检验失败的样品来检查晶粒尺寸,杂质或夹杂物,这些物质可能会在XRD分析设备运行期间影响材料的质量??应用和Scherrer方程?§?£使用时,检查纳米级晶体(晶粒)的大小,然后使用公式Steinmetz评估损耗磁滞现象也会显着影响操作。核心总亏损3种D型氧化物的存在和晶体尺寸(晶粒)的变化。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号