机译:飞行时间二次离子质谱法对Fe-Cr基合金中轻元素的微部分图像分析
secondary ion mass spectrometrylight elementsdeuteriumsegregation;
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机译:基于簇离子束的飞行时间二次离子质谱和主成分分析的蛋白质和细胞微模式的化学成像分析
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机译:飞行时间二次离子质谱法定量分析光伏Cu(In,Ga)Se_2薄膜FTMS中的元素和钠
机译:使用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和扫描透射X射线显微镜(STXM)对中国露头煤中的煤形态进行化学成像。
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机译:潜在指纹的化学表征,包括基质辅助激光解吸电离,飞行时间二次离子质谱,兆电子伏特二次质谱,气相色谱/质谱,X射线光电子能谱和衰减全反射傅里叶变换红外光谱成像:比较