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机译:具有新型双参考和动态跟踪方案的128 Kb HfO2 ReRAM,可提高写入良率
机译:使用动态跳变点不匹配采样电流模式感测放大器和低直流电压模式写终止方案的ReRAM宏,以抵抗电阻和写延迟变化
机译:基于混合RRAM(HfO2)/ 28 nm FDSOI CMOS技术的128 kb嵌入式非易失性存储器的设计和仿真
机译:写当前自配置方案以提高MRAM的良率
机译:用于编写ReRAM的比特率改进的双参考和动态跟踪方案
机译:具有新型双参考和动态跟踪方案的128 kB HFO 2 sub> RERAM,用于写入产量改进