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Protect Electronic Ballasts in Fluorescent Lamps

机译:保护荧光灯中的电子镇流器

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摘要

Electronic Ballastsused in fluorescent lighting systems can experience high failure rates, resulting from end-of-life (EOL) issues. The IEC 61347-2-3 standard specifies three tests to simulate the effect of the lamp's end of life: the asymmetric pulse test (Clause 17.2); asymmetric power dissipation test (Clause 17.3); and the open filament test (Clause 17.4). Any one of these three tests can be used to prove the eligibility of the electronic ballast.
机译:荧光灯系统中的电子镇流器可能会因寿命终止(EOL)问题而导致较高的故障率。 IEC 61347-2-3标准规定了三种测试来模拟灯泡寿命终止的影响:不对称脉冲测试(第17.2节);非对称功耗测试(第17.3节);以及开放式灯丝测试(条款17.4)。这三个测试中的任何一个都可以用来证明电子镇流器的合格性。

著录项

  • 来源
    《Design News》 |2012年第10期|p.60|共1页
  • 作者

    KEDAR BHATAWADEKAR;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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