要解决的问题:提供一种用于荧光灯的电子镇流器保护电路的可靠性测试方法,该方法能够在短时间内执行大量测试,同时模拟其寿命终止瞬态现象。日光灯。
解决方案:这种用于荧光灯电子镇流器保护电路的可靠性测试方法的特征在于,在荧光灯的电子镇流器中,阻抗可变元件连接到电子镇流器的负载侧。 ;阻抗可变元件重现了实际荧光灯在寿命尽头时出现的瞬态现象,以确认电子镇流器的保护工作。
版权:(C)2004,日本特许厅和日本国家唱片公司
公开/公告号JP2004185887A
专利类型
公开/公告日2004-07-02
原文格式PDF
申请/专利权人 OSRAM-MELCO LTD;
申请/专利号JP20020349448
申请日2002-12-02
分类号H05B37/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:28:54