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Model-Based Identification of Nanomechanical Properties in Atomic Force Microscopy: Theory and Experiments

机译:基于模型的原子力显微镜中纳米力学性能的识别:理论与实验

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摘要

The ability of the atomic force microscope (AFM) to resolve highly accurate interaction forces has made it an increasingly popular tool for determining nanomechanical properties of soft samples. Traditionally, elasticity is determined by gathering force–d
机译:原子力显微镜(AFM)解析高精度相互作用力的能力使其成为确定软样品纳米力学性能的工具。传统上,弹性是由聚集力决定的。

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