机译:诊断扫描链中的多个保持时间和建立时间故障
automatic test pattern generation; fault diagnosis; logic design; logic testing; ATPG; benchmark circuits; diagnosis patterns; multiple hold-time diagnosis; scan chains; setup-time fault diagnosis; stuck-at fault test pattern generators; thermometer scan input; ATPG;
机译:诊断扫描链中的单个卡死故障和多个定时故障
机译:多重扫描链时序故障的诊断
机译:通过图像恢复进行诊断:在扫描链中查找混合的多个定时故障
机译:多个间歇性扫描链保持时间故障的有效诊断
机译:片上系统(SOC)的故障仿真和多扫描链设计方法。
机译:使用加密芯片的扫描链故障诊断无线传感器网络的回归
机译:间歇扫描链保持时间故障的统计诊断