机译:在测试生成过程中针对多个故障模型更新目标故障集
Purdue Univ Sch ECE 465 Northwestern Ave W Lafayette IN 47907 USA;
fault diagnosis; automatic test pattern generation; integrated circuit testing; target faults; test generation; multiple fault models; undetectable transition fault; aborted transition fault; four-way bridging faults; undetectable single stuck-at faults;
机译:多个卡住故障的自动测试码型生成:当单个故障的测试不足时
机译:多个卡住故障的自动测试码型生成:当单个故障的测试不足时
机译:多个卡住故障的自动测试码型生成:当单个故障的测试不足时
机译:使用多组目标故障的路径延迟故障的测试丰富
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:使用多组目标故障的路径延迟故障的测试丰富
机译:桥接故障的不可检测性和卡住故障测试装置的有效性