机译:差分白光干涉法超薄金属箔的非接触式厚度测量
State Key Lab of Modern Optical Instrumentation, National Engineering & Technology Research Center for Optical Instrument, Zhejiang University, Hangzhou 310027;
instrumentation; measurement; and metrology; fringe analysis; interferometry; nondestructive testing;
机译:一种改进的差分白光光谱干涉法数据处理方法,用于测量超薄金属箔的厚度
机译:差分白光干涉法测量金属箔厚度的新数据处理技术
机译:基于差分白光干涉测量的不透明样本的自校准绝对厚度测量
机译:超薄金属箔厚度测量差分白光光谱干涉法的改进数据处理方法
机译:离子诱导的电子从超薄碳箔和近乎自由的电子金属发出。
机译:基于横向扫描白色光干涉测量的集成散斑的位移测量
机译:使用扫描白光干涉仪测量薄膜厚度