Kuitujen ja paperin pintakerrosta karakterisoidaan mikroskooppisin ja spektrometrisi n menetelmin

摘要

Pintatutkimuksen symposiumissa selviteltiin mikroskooppisia ja spektrometrisia pinta mittaus-sovelluksia. Näiden runsaus osoittaa menetelmien käyttökelpoisuutta. Mittaukset antavat tietoa, jota tarvitaan sekä kuitu-tutkimuksessa että paperin valmistusprosessien ja lopputuotteen ominaisuuksien kehittämisessä.