Исследование влияния теплового движения возмущающих частиц на штарковские профили спектральных линий многозарядных ионов в плотной плазме методом модельного микрополя

摘要

Рассмотрено влияние нелинейных интерференционных эффектов и нестатичности ионного микрополя на контур линии перехода 2_(1/2)→1_(1/2) в [Н]-ионах плазмы. Используется метод модельного микрополя, т. е. подход, в котором ионное микрополе моделируется случайным процессом специального вида (так называемым процессом кенгуру). Результаты расчета I(ω) для аргоновой плазмы сравниваются с литературными данными.