机译:Ag覆盖的L-cvd Sno_2薄膜表面化学的Xps研究
CESIS Centre of Excellence, Silesian University of Technology, 44-100 Gliwice, Poland;
tin dioxide; l-cvd thin films; ag-doping; xps surface chemistry; depth profiling;
机译:XPS和AFM研究Si衬底制备对L-CVD SnO_2薄膜表面化学和形貌的影响
机译:XPS研究L-CVD SnO2薄膜氧化后的表面化学
机译:L-CVD SnO_2超薄膜表面电子性能的光发射研究
机译:Ni掺杂SnO_2薄膜的结构,磁性和表面形态学研究
机译:通过使用XPS检查聚酰亚胺和苯并环丁烯薄膜的表面来研究微电子中的降解化学
机译:用XPSTDS和AFM研究Ag覆盖的L-CVD SnO2纳米层的表面化学和形态
机译:用XPS,TDS和AFM研究Ag覆盖的L-CVD SnO2纳米层的表面化学和形态