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机译:界面层对栅电介质Al_2O_3 / TiO_2 / Al_2O_3薄膜电学特性的影响
School of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University, 262, Seongsanno, Seodaemoongu, Seoul, 120-749, Republic of Korea;
School of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University, 262, Seongsanno, Seodaemoongu, Seoul, 120-749, Republic of Korea;
annealing; atomic layer deposition; electrical characterization; high-k dielectric; interfacial layer;
机译:热退火对具有Al_2O_3栅介质的In-Ga-Zn-O薄膜晶体管电学特性的影响
机译:电极金属的界面氧化物层对带有HfO_2栅介质的有机薄膜晶体管电学特性的影响
机译:具有增强的有机场效应晶体管电性能的Al_2O_3 / TiO_2纳米层压栅极电介质膜
机译:Al_2O_3,HFO_2的物理和电性能及其通过原子层沉积制备的合金薄膜65nm CMOS栅极电介质
机译:用于替代栅极电介质应用的超薄硅酸ha薄膜的工艺开发,材料分析和电学表征。
机译:具有聚合物介电层的有机薄膜晶体管中界面电荷的耗尽对电稳定性的影响
机译:界面电介质层对顶栅in-Zn氧化物薄膜晶体管电性能的影响