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机译:使用感应和二次电流测量分析高纯非晶SiO2中电子辐照产生的空穴的热脱陷
Univ Sfax, LaMaCoP, Sfax 3000, Tunisia;
Aix Marseille Univ, UMR CNRS 7334, Im2np, F-13397 Marseille 20, France;
Aix Marseille Univ, UMR CNRS 7334, Im2np, F-13397 Marseille 20, France;
CEA, GRAMAT, DAM, F-46500 Gramat, France;
Univ Sfax, LaMaCoP, Sfax 3000, Tunisia;
Amorphous SiO2; Thermal holes detrapping; Electron irradiation; Positive charging; Induced current; Activation energy;
机译:SiO2上电子辐照非晶Ge中Au诱导的横向结晶的增强
机译:SiO2玻璃中电子辐照引起的结构改性:局部致密化测量
机译:SiO2玻璃中电子辐照引起的结构改性:局部致密化测量
机译:通过同时测量热激发电流和空间电荷分布来分析电子束辐照的PMMA中的传导电流
机译:考虑到辐射电子空穴重组单层WSE2和SiO2之间的界面热敏性
机译:室温下电子辐照在金属氧化物/ Si界面上形成无定形SiO2;在界面上写入电子束
机译:电子辐照在室温下在金属氧化物/ si界面处诱导非晶siO 2形成;接口上的电子束写入