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Efficiency droop and incomplete carrier localization in InGaN/GaN quantum well light-emitting diodes

机译:InGaN / GaN量子阱发光二极管中的效率下降和不完全的载流子定位

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摘要

A direct correlation between efficiency droop and broadening of emission spectrum of InGaN/GaN quantum wells (QWs) with increasing current density is found. A model of incomplete carrier localization in InGaN/GaN QWs is proposed. At low injection, the strong carrier localization and high-energy cutoff of emission spectrum results from fast carrier energy relaxation due to carrier hopping between localized tail states in QWs. At high level injection, the energy relaxation rate decreases due to the partial filling of tail states and high energy slope of the spectrum starts to determine by Boltzmann occupancy of tail states. This results in the incomplete carrier localization and the efficiency droop.
机译:发现效率下降与InGaN / GaN量子阱(QW)的发射光谱的扩展与电流密度的增加之间存在直接关系。提出了InGaN / GaN QWs中不完全载流子定位的模型。在低注入时,由于QWs中局部尾态之间的载流子跳跃,载流子快速弛豫导致了强的载流子局部化和发射谱的高能截止。在高水平注入时,由于尾态的部分填充,能量弛豫率降低,并且光谱的高能量斜率开始由尾态的玻耳兹曼占有率确定。这导致不完全的载流子定位和效率下降。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2013年第19期|1-4|共4页
  • 作者单位

    A.F. Ioffe Physical-Technical Institute of Russian Academy of Sciences, 194021 St. Petersburg, Russia|c|;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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