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Inhomogeneous critical current in nanowire superconducting single-photon detectors

机译:纳米线超导单光子探测器中的非均匀临界电流

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摘要

A superconducting thin film with uniform properties is the key to realize nanowire superconducting single-photon detectors (SSPDs) with high performance and high yield. To investigate the uniformity of NbN films, we introduce and characterize simple detectors consisting of short nanowires with length ranging from 100 nm to 15 μm. Our nanowires, contrary to meander SSPDs, allow probing the homogeneity of NbN at the nanoscale. Experimental results, endorsed by a microscopic model, show the strongly inhomogeneous nature of NbN films on the sub-100 nm scale.
机译:具有均匀特性的超导薄膜是实现高性能,高产量的纳米线超导单光子探测器(SSPD)的关键。为了研究NbN薄膜的均匀性,我们介绍并表征了简单的探测器,该探测器由长度范围从100 nm至15μm的短纳米线组成。与蜿蜒的SSPD相反,我们的纳米线允许在纳米级探测NbN的均匀性。由显微镜模型认可的实验结果表明,NbN薄膜在低于100 nm的范围内具有很强的不均匀性。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2014年第22期|1-4|共4页
  • 作者单位

    COBRA Research Institute, Eindhoven University of Technology, P.O. Box 513, NL-5600MB Eindhoven, The Netherlands;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-17 13:10:36

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