机译:毫米波区域低介电常数薄膜的介电常数的测定
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST) 1-1-1, Central 2, Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, Japan;
机译:使用晶圆上平行平板传输线表征微波范围内的薄膜低介电常数材料
机译:低介电常数多晶PTFE亚微米介电薄膜的厚度依赖性热可靠性
机译:有机金属铜化合物在超临界二氧化碳中与多孔低介电常数薄膜的缩合和清洗
机译:低介电常数SiOF ILD上沉积的Cu / WN薄膜的可靠性
机译:低介电常数有机硅基薄膜的化学气相沉积。
机译:铜纳米线/非晶态的巨介电常数用于超级电容器的SiO2复合薄膜
机译:使用准光电介质谐振器测量HTS薄膜的毫米波表面电阻和电抗的温度依赖性