机译:利用逸出的正电子的γ射线能谱测量多孔膜上扩散壁垒的连续性
Oak Ridge National Laboratory, P.O. Box 2008, Oak Ridge, Tennessee 37831;
机译:用正电子飞行时间谱评估多孔低k膜上的扩散阻挡层连续性
机译:多孔体积分数变化的中孔二氧化硅薄膜:正-正ron灭衰减与逃逸至真空的直接关系
机译:低温下多孔Sio_2薄膜中正电子的形成与逸出
机译:多孔氧化物薄膜中的正电子扩散
机译:使用正电子an没寿命光谱探测多孔低介电常数薄膜。
机译:Micro-CT X射线成像可暴露生物膜内的结构化扩散障碍
机译:多孔体积分数变化的介孔二氧化硅薄膜:正-正ron灭与衰变和逃逸至真空的直接关系
机译:渗透和透过厚厚的壁垒硬X射线的扩散。 III。谱分布研究。