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机译:电迁移对界面化合物生长的影响
University of Cambridge, Department of Materials Science and Metallurgy, Pembroke Street, Cambridge CB2 3QZ, United Kingdom;
机译:电迁移对金属-键合界面金属间生长的影响
机译:退火,热迁移和电迁移对Cu / Sn-2.5Ag微凸点金属间化合物生长动力学的影响
机译:电迁移对Cu / SnBi / Cu焊点中金属间化合物生长的影响
机译:电迁移对3D包装中优先生长的金属间化合物互连的微观结构演变和力学性能的影响
机译:热电迁移对倒装芯片无铅焊点中铜溶解和金属间化合物形成的影响
机译:Ti / Al固态界面处金属间化合物的生长表征
机译:机器学习与相现场方法的集成模拟阳极侧CU / SN接口的电迁移诱导的Cu6Sn5 IMC生长