...
机译:具有3层高表面台阶的6H-SiC(0001)衬底上生长的AlN层中的螺纹位错阵列的形成机理
Department of Electronics Science and Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8510, Japan;
Department of Electronics Science and Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8510, Japan,Photonics and Electronics Science and Engineering Center, Kyoto University, Kyoto 615-8510, Japan;
Department of Electronics Science and Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8510, Japan;
机译:具有3层高表面台阶的6H-SiC(0001)衬底上生长的AlN层中的螺纹位错阵列的形成机理
机译:在6H-SiC(0001)(Si)表面生长的GaN和AlN中的外延层和((1)over-bar-2(1)over-bar-0)棱柱形缺陷的极性
机译:使用具有不同缓冲层的6H-SiC(0001)衬底生长的GaN层的表面形态和应变
机译:ALN缓冲层菌株对3 in 6H-SiC衬底生长的GaN癫痫菌株的影响
机译:通过发光光谱和X射线衍射测定在6H-SiC(0001)衬底上生长的GaN和Al(x)Ga(1-x)N薄膜的应变和组成。
机译:在原始GaN(0001)衬底上生长的GaN / AlN超晶格中应变弛豫的特殊性:XRD和AFM的比较研究
机译:具有3层高表面台阶的6H-SiC(0001)衬底上生长的AlN层中的螺纹位错阵列的形成机理