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Thickness and strain effects on the thermoelectric transport in nanostructured Bi_2Se_3

机译:厚度和应变对Bi_2Se_3纳米结构中热电输运的影响

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摘要

The structural stability, electronic structure, and thermal transport properties of one to six quintuple layers (QLs) of Bi_2Se_3 are investigated by van der Waals density functional theory and semi-classical Boltzmann theory. The bandgap amounts to 0.41 eV for a single QL and reduces to 0.23 eV when the number of QLs increases to six. A single QL has a significantly higher thermoelectric figure of merit (0.27) than the bulk material (0.10), which can be further enhanced to 0.30 by introducing 2.5% compressive strain. Positive phonon frequencies under strain indicate that the structural stability is maintained.
机译:利用范德华密度泛函理论和半经典玻尔兹曼理论研究了Bi_2Se_3的1至6层五重层(QL)的结构稳定性,电子结构和热传输性质。对于单个QL,带隙等于0.41 eV;当QL的数量增加到六个时,带隙减小到0.23 eV。单个QL具有比散装材料(0.10)高得多的热电品质因数(0.27),通过引入2.5%的压缩应变可以将其进一步提高到0.30。应变下的正声子频率表示保持了结构稳定性。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2014年第3期|033105.1-033105.5|共5页
  • 作者单位

    PSE Division, KAUST, Thuwal 23955-6900, Kingdom of Saudi Arabia;

    PSE Division, KAUST, Thuwal 23955-6900, Kingdom of Saudi Arabia;

    PSE Division, KAUST, Thuwal 23955-6900, Kingdom of Saudi Arabia;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:15:36

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