机译:使用常规光学显微镜确定簇中纳米颗粒数量的方法
Semiconductor and Dimensional Metrology Division, PML, NIST, Gaithersburg, Maryland 20899, USA;
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机译:在常规显微镜中通过使用结构化光获得光学切片的方法
机译:测定团簇和纳米颗粒熔化温度和熔化热的实验方法
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机译:关于使用磁和光学方法确定尺寸和 纳米粒子嵌入氧化物半导体的特性