机译:通过相移和白光干涉仪获得的粗糙度测量值之间的差异
Natl Inst Stand & Technol, Div Precis Engn, Gaithersburg, MD 20899 USA;
VERTICAL-SCANNING INTERFEROMETRY; COUPLED-WAVE ANALYSIS; SURFACES; MICROSCOPE; ALGORITHM; SIGNAL; FORCE; ORDER;
机译:通过相移和白光干涉仪获得的粗糙度测量值之间的差异
机译:用于测量光纤外部法布里 - 珀罗干涉仪的五步相移白光干涉测量
机译:使用数据平均值在宽范围粗糙度测量上优化相移干涉仪的性能
机译:基于较高步骤相位移位算法的中心波长测量,白光扫描干涉法
机译:用于动态干涉测量的微偏振器相移阵列。
机译:通过双通道同时相移干涉术目测无固液滴的蒸发过程
机译:白光扫描干涉法中基于高阶相移算法的中心波长测量