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机译:5-200 MeV质子和中子引起的act系核裂变产生碎片质量的系统方法
机译:裂变片段质量产量和中子诱导的U-233裂变的总动能释放从热能到40 meV
机译:En = 200 keV – 30 MeV的中子引起的235U和238U裂变的裂变碎片总动能和质量产率
机译:质子诱发裂变在26.5和62.9 MeV入射质子能量下act系核的裂变特性
机译:质子诱导的活性核在20到70兆的活性核裂变
机译:中,快中子能在中子诱发裂变中的235铀和238铀的裂变碎片质量分布和总动能释放。
机译:CVD金刚石至70meV质子快节中子和200meV接头的辐射耐受性研究
机译:在26.5和62.9 MeV入射质子能量下质子诱发裂变的of系原子核的裂变特性