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Indium Clusters in InGaN

机译:InGaN中的铟簇

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摘要

The existence of indium clusters in InGaN layers has been a long debated and very controversial subject. This Rapid Research Letter reports on an investigation of InGaN layers by transmission electron microscopy (TEM) and three-dimensional atom probe tomography (APT). In clusters in the size range of 2-3 nm were observed in the active region, in contrast to recentrnreports, where only gross discontinuities and compositional variations on a 20-100 nm length scale, but not clustering, were found.
机译:InGaN层中铟簇的存在是一个长期争论且非常有争议的主题。该快速研究信报道了通过透射电子显微镜(TEM)和三维原子探针层析成像(APT)对InGaN层进行的研究。与最近的报告相反,在活性区域中观察到的簇的大小范围为2-3 nm,而最近的报告仅发现了总体不连续性和20-100 nm长度范围内的成分变化,而没有发现簇。

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    《Advanced Functional Materials 》 |2009年第9期| 1318-05| 共1页
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