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Quantitative Measurement of the Magnetic Moment of Individual Magnetic Nanoparticles by Magnetic Force Microscopy

机译:磁力显微镜定量测量单个磁性纳米粒子的磁矩

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摘要

The quantitative measurement of the magnetization of individual magnetic nanoparticles (MNPs) using magnetic force microscopy (MFM) is described. Quantitative measurement is realized by calibration of the MFM signal using an MNP reference sample with traceably determined magnetization. A resolution of the magnetic moment of the order of 10−18 A m2 under ambient conditions is demonstrated, which is presently limited by the tip's magnetic moment and the noise level of the instrument. The calibration scheme can be applied to practically any magnetic force microscope and tip, thus allowing a wide range of future applications, for example in nanomagnetism and biotechnology.
机译:描述了使用磁力显微镜(MFM)定量测量单个磁性纳米颗粒(MNP)的磁化强度的方法。通过使用具有可追溯确定的磁化强度的MNP参考样品对MFM信号进行校准,可以实现定量测量。演示了在环境条件下大约10 −18 A m 2 的磁矩的分辨率,该分辨率目前受尖端的磁矩和噪声水平的限制。这个仪器。该校准方案几乎可以应用于任何磁力显微镜和尖端,因此可以在诸如纳米磁性和生物技术等广泛的未来应用中使用。

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