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Impedance Analysis of Thin Films of Organic-Inorganic Perovskites CH3NH3PbI3 with Control of Microstructure

机译:控制结构的有机-无机钙钛矿CH3NH3PbI3薄膜的阻抗分析

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摘要

Experimental (points) and calculated (lines) X-ray powder diffraction patterns of the CH NH PbI Cl films after heat treatment at 80 °С and the ratio of starting reagents (PbI and CH NH І) 1:2. Vertical bands indicate the positions of the peaks; the Miller indices are in parentheses. The difference curve is shown below
机译:在80°C热处理后CH NH PbI Cl膜的实验(点)和计算(线)X射线粉末衍射图,起始试剂(PbI和CH NH 3)的比例为1:2。垂直带表示峰的位置。米勒指数在括号中。差异曲线如下图所示

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