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【2h】

Collapse of DNA under Alternating Electric Fields

机译:交变电场下DNA的崩溃

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摘要

Recent studies have shown that double-stranded DNA can collapse in presence of a strong electric field. Here we provide an in-depth study of the collapse of DNA under weak confinement in microchannels as a function of buffer strength, driving frequency, applied electric field strength, and molecule size. We find that the critical electric field at which DNA molecules collapse (10s of kV/cm) is strongly dependent on driving frequency dependent (100 … 800 Hz) and molecular size (20 … 160 kbp), and weakly dependent on the ionic strength (8 … 60 mM). We argue that an apparent stretching at very high electric fields is an artifact of the finite frame time of video microscopy.PACS numbers: 87.14.gk, 36.20.Ey, 82.35.Lr, 82.35.Rs
机译:最近的研究表明,在强电场存在下,双链DNA可能会崩溃。在这里,我们提供了对微通道中弱约束下DNA崩溃的深入研究,该崩溃是缓冲强度,驱动频率,施加的电场强度和分子大小的函数。我们发现,DNA分子坍塌的临界电场(10s kV / cm)在很大程度上取决于驱动频率(100…800 Hz)和分子大小(20…160 kbp),而与离子强度的依赖性很小( 8…60 mM)。我们认为,在非常高的电场下进行明显的拉伸是视频显微镜有限帧时间的伪影.PACS编号:87.14.gk,36.20.Ey,82.35.Lr,82.35.Rs

著录项

  • 期刊名称 other
  • 作者

    Chunda Zhou; Robert Riehn;

  • 作者单位
  • 年(卷),期 -1(92),1
  • 年度 -1
  • 页码 012714
  • 总页数 19
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类
  • 关键词

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