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X–ray absorption phase and dark–field tomography through a beam tracking approach

机译:通过光束跟踪方法进行X射线吸收相位和暗场层析成像

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摘要

We present a development of the beam–tracking approach that allows its implementation in computed tomography. One absorbing mask placed before the sample and a high resolution detector are used to track variations in the beam intensity distribution caused by the sample. Absorption, refraction, and dark–field are retrieved through a multi–Gaussian interpolation of the beam. Standard filtered back projection is used to reconstruct three dimensional maps of the real and imaginary part of the refractive index, and of the dark–field signal. While the method is here demonstrated using synchrotron radiation, its low coherence requirements suggest a possible implementation with laboratory sources.
机译:我们介绍了光束跟踪方法的发展,使其可以在计算机断层摄影中实现。放置在样品前的一个吸收罩和高分辨率检测器用于跟踪由样品引起的光束强度分布的变化。通过光束的多高斯插值可以获取吸收,折射和暗场。标准滤波后的反投影用于重建折射率的实部和虚部以及暗场信号的三维图。虽然此处使用同步加速器辐射演示了该方法,但其低相干性要求表明可以使用实验室光源进行实施。

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