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Adaptive Group-combined P-values Test for Two-sample Location Problem with Applications to Microarray Data

机译:两样本定位问题的自适应群组合P值检验及其在微阵列数据中的应用

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摘要

The purpose of this article is to propose a test for two-sample location problem in high-dimensional data. In general highdimensional case, the data dimension can be much larger than the sample size and the underlying distribution may be far from normal. Existing tests requiring explicit relationship between the data dimension and sample size or designed for multivariate normal distributions may lose power significantly and even yield type I error rates strayed from nominal levels. To overcome this issue, we propose an adaptive group p-values combination test which is robust against both high dimensionality and normality. Simulation studies show that the proposed test controls type I error rates correctly and outperforms some existing tests in most situations. An Ageing Human Brain Microarray data are used to further exemplify the method.
机译:本文的目的是针对高维数据中的两个样本定位问题提出测试。在一般的高维情况下,数据维可能会比样本大小大得多,并且基础分布可能会远离正态分布。现有的测试需要在数据维度和样本大小之间建立明确的关系,或者针对多元正态分布而设计,可能会导致功耗显着降低,甚至导致I类错误率偏离标称水平。为了克服这个问题,我们提出了一种适应性高的组p值组合测试,该测试对高维和正态性均具有鲁棒性。仿真研究表明,所提出的测试控制类型I的错误率正确,并且在大多数情况下优于某些现有测试。老化的人脑微阵列数据用于进一步例证该方法。

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