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Assessment of electrical impedance endotomography for hardware specification

机译:评估电阻抗内窥镜检查是否符合硬件规范

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摘要

PurposeThe purpose of the study is the quantitative assessment of Electrical Impedance Endotomography (EIE) for the specification of hardware systems. EIE is a modality of Electrical Impedance Tomography (EIT) where the electrodes are located on a probe placed in the middle of the region of interest. The absence of material boundary to the explored volume and the decrease in sensitivity away from the probe requires specific study.
机译:目的研究的目的是对硬件系统规格的电阻抗内窥镜检查(EIE)进行定量评估。 EIE是一种电阻抗层析成像(EIT)的形式,其中电极位于位于感兴趣区域中间的探针上。探查的物质没有物质边界,并且远离探针的灵敏度下降需要进行专门研究。

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