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Genetic architecture of common bunt resistance in winter wheat using genome-wide association study

机译:基于全基因组关联研究的冬小麦普通抗性遗传结构

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摘要

BackgroundCommon bunt (caused by Tilletia caries and T. foetida) has been considered as a major disease in wheat (Triticum aestivum) following rust (Puccinia spp.) in the Near East and is economically important in the Great Plains, USA. Despite the fact that it can be easily controlled using seed treatment with fungicides, fungicides often cannot or may not be used in organic and low-input fields. Planting common bunt resistant genotypes is an alternative.
机译:背景普通bun(由Tilletia caries和foetida引起)被认为是近东小麦锈病(Puccinia spp。)的小麦(Triticum aestivum)的主要病害,在美国大平原地区具有重要的经济意义。尽管使用杀菌剂进行种子处理可以很容易地控制杀菌剂,但杀菌剂通常不能或不能用于有机和低投入领域。种植常见的抗短打基因型是一种选择。

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