氢化物发生——原子荧光光谱法测定镍系统固体物料中的微量锡

摘要

本文研究了镍系统固体物料镍精矿、高镍锍、高锍阳极板等样品中微量锡的测定方法。样品经王水溶解后,用甲基橙与盐酸控制还原酸度,在盐酸介质中加入一定量柠檬酸掩蔽基体干扰,用硼氢化钾做还原剂,酒石酸做载液,采用氢化物发生原子荧光光谱法直接测定出镍系统固体物料中微量锡含量。该方法检出限为0.3736ng/m L,样品的测定范围是0.00010%-0.10%。测定用本文拟定的方法测定样品11次,相对标准偏差（RSD）在1.99%-3.82%之间,加标回收率在77.9%-126.0%之间。当线性范围在0-100ng/m L时,相关系数可达到0.9998以上。该方法灵敏度高,操作流程简单,效果令人满意。