硅钼蓝分光光度法测定掺锡氧化铟粉中硅

摘要

cqvip:本文研究了以氢氧化钠熔融分解试样,经盐酸酸化,在稀盐酸介质中,钼酸铵与硅生成硅钼黄,以硫酸-草酸-抗坏血酸混合溶液为还原剂消除磷砷的干扰,并还原成硅钼蓝,从而建立了硅钼蓝分光光度法测定掺锡氧化铟粉中硅的方法.试验表明,大量铟、锡存在下,硅质量浓度在0.01~0.12μg/mL范围内与其吸光度符合比尔定律,方法的相对标准偏差(RSD值,n=11)为1.56%~15.1%,加标回收率在94.0%~101.8%之间.实验方法用于测定4个掺锡氧化铟粉样品和2个合成样品中硅,结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定结果相一致,合成样品分析结果与理论值相符,三家实验室比对结果相吻合.