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微器件材料拉伸试验检测技术与装置

         

摘要

介绍了一种简单可行的面向微器件材料的单轴机械测试技术与装置.通过对直径为0.22 mm,长度10mm的铜丝在700℃温度下退火,室温下冷却4 h后与现有的单轴试验机进行拉伸对比试验,证明了此装置的可行性.并在此基础上对厚度不同的聚合物薄膜材料进行了拉伸实验,得出了相应的应力与应变曲线.

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