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机译:EEPROM设备寿命的估计
LI Leilei; YU Zongguang; HAO Yue;
^pof;
Microelectronics;
Xidian;
University;
Xi'an;
710071;
China;
^pResearch;
Institute;
Electronics;
Technology;
Group;
Corporation;
Wuxi;
214035;
EEPROM; 寿命; 器件; 预算; 经时击穿; 压力测试; 介质击穿; 生灭过程;
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