基于LabVIEW的微型磁通门磁强计测试系统搭建

摘要

微型磁通门磁强计的测试是其整体研究的重要组成部分.利用探针卡搭建的测试平台并基于LabVIEW进行后续信号处理的测试系统,可在封装前对磁通门探头进行测试,解决了微型磁通门磁强计的测试问题.采用搭建的测试系统分别对微型磁通门探头与磁通门样机进行测试,测试结果发现,微型磁通门探头的最佳激励频率为3.2 MHz,磁通门样机的灵敏度为34.8 V/T,表明测试系统能用于微型磁通门磁强计的测试,为微型磁通门磁强计的研究打下了坚实的基础.