X射线荧光光谱法测定以硅铝为基体催化剂及载体中二氧化硅含量

摘要

采用X射线荧光光谱法测定以硅铝为基体催化剂及载体中二氧化硅含量,通过选择合适的标准样品,确定仪器最佳参数,最后建立工作曲线.曲线范围1％～10％,经过试验证明,本法快速、准确,能很好的对以硅铝为基体催化剂及载体进行测定,满足生产需要.