自动射频测试系统中射频箱的软硬件设计

摘要

在现代射频测试中,自动测试已成为趋势。但射频测试场景繁多,测试技术更新换代快,使得自动测试系统也面临需要频繁改动升级的问题,耗费成本巨大。本文提供一种好的射频箱软硬件设计,可以极大地避免因测试技术更新或测试要求提高而导致的测试系统频繁改动升级,减少射频自动测试系统的换代成本。