首页> 中文期刊> 《通信电源技术》 >测控仪器干扰源分析及抗干扰技术

测控仪器干扰源分析及抗干扰技术

         

摘要

cqvip:测控系统由于复杂的工作环境,常遇到严重的电磁干扰,并且无法消除其干扰源。需针对具体情况,通过对干扰加以限制来抑制和削弱干扰源对测控系统的干扰作用。主要针对测控系统容易受到的干扰进行分析,通过实例对抗干扰常见的处理方法进行了分析。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号