复杂电子设备研制阶段数据的可靠性综合评估

摘要

利用复杂电子设备研制阶段故障数据,综合评估其可靠性水平,可以为复杂电子设备的定型及可靠性鉴定提供依据.为了对复杂电子设备研制阶段各试验数据进行可靠性综合评估,在可靠性增长的杜安模型基础上,引入不同试验条件下的环境折合系数,建立了复杂电子设备的可靠性综合评估模型,并提出了相应的综合评估方法,最后给出了所述方法与模型的一个工程应用实例.